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聚焦标准落地应用 | GB/T 4937系列标准宣贯会在石家庄成功举办

来源:     作者:张洁     发布时间:2026年09月10日     浏览次数:         

为深入贯彻国家标准化战略,推动半导体器件可靠性试验领域国家标准的有效实施,统一行业检验流程与判定准则,以标准共识促进产业链协同发展,2026年9月8日,全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)联合河北北芯半导体科技有限公司,在石家庄成功举办了GB/T 4937《半导体器件 机械和气候试验方法》系列标准宣贯会。本次宣贯会聚焦其中新近出版及广泛应用的核心8项标准,吸引了来自半导体器件上下游企业、检测机构、科研院所及高等院校等近30位代表参会。

合影

宣贯标准清单

序号

标准编号

标准名称

1

GB/T 4937.262023

半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)

2

GB/T 4937.272023

半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试 机器模型(MM)

3

GB/T 4937.28—2026

半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM)器件级

4

GB/T 4937.242025

半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿 无偏置强加速应力试验

5

GB/T 4937.332025

半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿 无偏置高压蒸煮

6

GB/T 4937.201—2026

半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输

7

GB/T 4937.392025

半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分:半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量

8

GB/T 4937.412026

半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法

会议由全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分技术委员会秘书长陈海蓉主持。陈海蓉指出,机械和气候试验方法标准是半导体器件标准体系中的基础通用方法标准,对产品研发验证、质量控制及检测认证具有重要指导意义,是支撑行业高质量发展的技术基石。她希望参会代表能够借此机会系统掌握标准条款,规范试验操作,将试验方法标准切实融入日常研发、检测与质量管理工作中。随后,秘书处张丽静详细介绍了国家标准制修订流程及要求,为企业参与标准制修订工作提供了清晰指引。

会议

在标准宣贯环节,会议邀请了来自河北北芯半导体科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所及第五十八研究所等单位的标准主要起草人,对8项标准进行了系统解读。授课老师深入讲解了标准制定背景和主要内容,同时结合具体案例,通过现场互动交流的形式,帮助参会企业准确把握标准发布实施的关键要点与操作细节,有效推动标准的落地应用。

未来,全国半导体器件标准化技术委员会将继续聚焦行业需求,加大标准服务行业的力度,持续推进半导体器件产业的标准化建设,为我国半导体器件行业高质量发展提供坚实支撑。

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